宽禁带功率半导体器件可靠性 封面

《宽禁带功率半导体器件可靠性》

孙伟锋 / 刘斯扬 / 魏家行 / 李胜 / 张龙

ISBN:978-7-5766-0153-4

更多“孙伟锋”的图书 更多“刘斯扬”的图书 更多“魏家行”的图书 更多“李胜”的图书 更多“张龙”的图书 按关键词搜索相关图书

关键词:禁带-半导体器件-可靠性-研究

页数:208

出版社地址:未知

价格:¥58.00

更新时间:2025年12月13日

最近编辑: 暂无编辑记录


点此占领格子后刷新查看百万图书阅读或下载地址。
提示:如果既不想花钱占格子,又想看阅读下载地址,请仔细浏览本站内容,站长将阅读下载地址免费公布了的,就是需要仔细找找。

《宽禁带功率半导体器件可靠性》内容简介

本书内容共分5章。第1章介绍碳化硅、氮化镓等宽禁带半导体材料特性、宽禁带功率器件结构发展及面临的可靠性挑战。第2章阐述宽禁带功率器件在电热应力下的可靠性损伤探测表征方法,力求从宏观和微观两个角度提供对器件损伤位置和机理的有效分析手段。第3章...

《宽禁带功率半导体器件可靠性》赏析

暂无赏析内容,快来发布第一篇赏析吧!

《宽禁带功率半导体器件可靠性》内容提问与解答

回答基于全网公开信息整理出来的本书相关信息。
解答内容:

宽禁带功率半导体器件可靠性二手书交易信息

出售
求购
总计
类型 价格 状态 发布者 发布时间 过期时间 响应次数
暂无交易记录