互换性与测量技术基础 封面

《互换性与测量技术基础》

高丽 / 于涛 / 杨俊茹 |北京:北京理工大学出版社 | 2018年01月

ISBN:9787568252430

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关键词:零部件-互换性;零部件-测量技术

页数:208

出版社地址:未知

价格:未知

学科分类: 工业技术 金属学与金属工艺 公差与技术测量及机械量仪 一般性问题

更新时间:2025年12月05日

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《互换性与测量技术基础》内容简介

本书包括绪论, 测量技术基础, 孔、轴公差与配合及其尺寸检测, 几何公差及检测, 表面粗糙度及检测, 滚动轴承与孔轴结合的互换性, 渐开线圆柱齿轮公差与检测, 常用连接件公差与检测, 圆锥公差以及尺寸链等共十章。

《互换性与测量技术基础》赏析

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