公差配合与技术测量 封面

《公差配合与技术测量》

封金祥 / 胡建国 / 武兴睿 / 乔振华 / 车永明 / 孙秀艳 / 邹津婷 / 任辉 |北京:北京理工大学出版社 | 2016年06月

ISBN:9787568216418

更多“封金祥”的图书 更多“胡建国”的图书 更多“武兴睿”的图书 更多“乔振华”的图书 更多“车永明”的图书 更多“孙秀艳”的图书 更多“邹津婷”的图书 更多“任辉”的图书 查看“北京:北京理工大学出版社”出版的图书 按关键词搜索相关图书

关键词:公差-配合-高等职业教育-教材;技术测量-高等职业教育-教材

页数:238

出版社地址:未知

价格:未知

学科分类: 工业技术 金属学与金属工艺 公差与技术测量及机械量仪 一般性问题

更新时间:2025年12月07日

最近编辑: 暂无编辑记录

数字馆藏百万电子书

《公差配合与技术测量》内容简介

全书共十章,分别是绪论、极限与配合基础、技术测量基础、几何公差与检测、表面粗糙度及测量、滚动轴承的公差与配合、圆锥的公差与配合、键和花键的公差与检测、螺纹的公差与检测、圆柱齿轮的公差与检测。

《公差配合与技术测量》赏析

暂无赏析内容,快来发布第一篇赏析吧!

《公差配合与技术测量》内容提问与解答

回答基于全网公开信息整理出来的本书相关信息。
解答内容:

公差配合与技术测量二手书交易信息

出售
求购
总计
类型 价格 状态 发布者 发布时间 过期时间 响应次数
暂无交易记录