FPGA芯片设计与测试技术研究删除本页内容
作者:张惠国，顾涵
ISBN:1978-7-5672-3899-22
关键词:可编程序逻辑器件-研究
页数:196
出版社: 苏州：苏州大学出版社
出版日期:2022.02
发现时间:2024年11月9日 20:56
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1.如果要找《FPGA芯片设计与测试技术研究》，可以尝试去图书馆。
2.本页面内容来自于http://m.5read.com/。
FPGA可分为基于SRAM技术、基于反熔丝技术和基于FLASHEPROM技术等几种类型，目前应用最多的是基于SRAM的FPGA。本书围绕基于SRAM的FPGA，基于岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识，涉及了FPGA芯片涉及的多个方面，可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识，提升对FPGA器件的设计和应用能力。
可编程序逻辑器件-研究
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