FPGA芯片设计与测试技术研究
作者： 张惠国，顾涵
ISBN：978-7-5672-3899-2
关键词： 可编程序逻辑器件-研究
页数：196
出版社： 苏州：苏州大学出版社
出版日期：
发现《FPGA芯片设计与测试技术研究》在 2025-10-28 可全文阅读或下载。
图书简介
FPGA可分为基于SRAM技术、基于反熔丝技术和基于FLASHEPROM技术等几种类型，目前应用最多的是基于SRAM的FPGA。本书围绕基于SRAM的FPGA，基于岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识，涉及了FPGA芯片涉及的多个方面，可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识，提升对FPGA器件的设计和应用能力。
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诉讼案号：（2022）川01民初4401，（2022）川01民初4403，（2022）川01民初4403，（2022）川0191民初19351号， （2022）川0191民初19594号，（2022）川0191民初20457号，（2022）川0191民初20459号， （2023）川知民终373号，（2023）川知民终374号，（2023）川知民终375号， （2024）川0191民初15977号，（2024）川0191民初15979号，（2024）川0191民初15980号， （2024）川0191民初15981号，（2024）川0191民初15982号
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