半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术

删除本页内容

作者:倪妍婷著

ISBN:1978-7-307-19034-42

关键词:半导体工艺-封装工艺-测试-智能制造系统

页数:173

出版社: 武汉:武汉大学出版社

出版日期:2017.03

本书2025年7月25日可阅读或下载

获取百万图书地址方式一:复制链接到微信、QQ群,24小时内有50人访问即可显示

,当前已有0人访问


本著作从系统化、协同化的角度构建适合半导体封装测试生产自身特点的协同体系结构,运用分布式人工智能技术中的多智能体对该系统进行模块化封装,对生产计划与调度中的具体问题进行建模,研究生产协同过程中的关键技术和协商机制,并进行协商优化。

半导体工艺-封装工艺-测试-智能制造系统

留言内容
发布留言


用户须知:

1.如果要找《半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术》,可以尝试去图书馆。

2.本页面文字和图片内容来自于http://m.5read.com/。

3.封皮图片地址:https://cover.duxiu.com/coverNew/CoverNew.dll?iid=636661646b6661636b6258a0a191a993a697a49f93a49d3936383831303532

半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术.pdf

半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术.docx