极限配合与测量技术删除本页内容
作者:张兆隆，张晓芳主编；李格平，陈新飚，张月华副主编
ISBN:1978-7-5640-6875-22
关键词:公差-配合-技术测量
页数:249
出版社: 中华中英出版社
出版日期:2012.11
发现时间:2024年10月21日 00:17
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本书共分为两篇，第一篇为基础篇，包括绪论、测量技术基础、尺寸公差与配合、几何公差、表面结构等方面的内容，第二篇为技能篇，包括孔轴尺寸测量、几何误差检测等。
公差-配合-技术测量
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