半导体测试技术原理与应用删除本页内容

作者:刘新福等编著

关键词:半导体材料-测试技术

页数:304

出版社: 中华中英出版社

出版日期:2007.01

发现时间:2023年7月13日 04:08



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本书讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点;详细分析四探针测量技术的基本原理,重点讨论常规直线四探针法、改进范德堡法和改进Ry-inaszewski四探针测试方法;讨论测试技术在材料科学等领域的分析与应用及无接触测量技术。

半导体材料-测试技术

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