聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS
删除本页内容作者:（英）D.布里格斯（D.Briggs）著；曹立礼，邓宗武译
关键词:商聚物-工程材料-表面分析
页数:197
出版社: 北京：化学工业出版社
出版日期:2001.11
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图书简介
本书深入论述了X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)及其在聚合物材料研究中的应用，内容包括聚合物表面的重要性，X射线光电子谱(XPS)等。
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诉讼案号：（2022）川01民初4401，（2022）川01民初4403，（2022）川01民初4403，（2022）川0191民初19351号，（2022）川0191民初19594号，（2022）川0191民初20457号，（2022）川0191民初20459号，（2023）川知民终373号，（2023）川知民终374号，（2023）川知民终375号，
（2024）川0191民初15977号，（2024）川0191民初15979号，（2024）川0191民初15980号，（2024）川0191民初15981号，（2024）川0191民初15982号
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