电子元器件声学扫描检查方法

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丛书:信息科学技术专著丛书

作者:张魁，赵海龙，崔亚茹，李建朝主编；黄杰，彭浩，席善斌，高金环等副主编

ISBN:1978-7-5635-6671-62

关键词:电子元器件-声学检验

页数:213

出版社: 北京：北京邮电大学出版社

出版日期:2022.07

发现电子元器件声学扫描检查方法在2025年9月24日可全文阅读或下载。

图书简介

本书系统地介绍了从原理、操作到应用等声学扫描检测技术所涉及的各方面内容，包括试验原理、操作指南、应用案例、试验技巧和塑封器件5篇。 第1篇试验原理介绍了超声波的检测原理和声学扫描显微镜的工作原理，是声扫试验的重要基础。 第2篇操作指南介绍了与试验操作相关的流程、设备和标准等，主要用于指导声扫试验人员实践操作。 第3篇应用案例介绍了常见半导体器件的检测关键因素和声扫试验的典型应用案例，熟悉这些案例对于快速提升试验人员的操作经验具有较大帮助。 第4篇试验技巧介绍了声扫试验过程中涉及的方法技巧、误判分析和异常分析等，掌握这些试验技巧能够显著提升试验人员的技术水平。 第5篇塑封器件系统地介绍了塑封器件的结构、工艺和失效情况分析，是声扫试验的延伸补充。 本书定位于电子元器件声学扫描方法的入门和精通，既可作为零基础人员的入门指南，也可作为有一定基础的声扫试验人员进阶使用。试验原理部分和操作指南部分主要是入门内容，可用于新员工培训。应用案例部分和试验技巧部分是进阶提升内容，可用于已掌握声扫试验技术的人员进一步提高，快速提升其自身水平和间接经验。塑封器件部分可用于开阔视野，提升塑封器件声扫试验人员的认知水平。

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