基于云架构的智能测试系统关键技术及应用删除本页内容
作者:邓士杰，丁超，唐力伟，张英波，苏续军，汪伟著
ISBN:17-5682-9617-52
关键词:自动测试系统-研究
页数:151
出版社: 北京：北京理工大学出版社
出版日期:2021.03
发现时间:2024年10月15日 19:25
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本书针对现有技术架构下的自动测试系统存在着测试效率和测试资源利用率偏低，测试成本偏高，导致已无法高效适应大规模并行测试应用场景的问题，借鉴云计算的理念，将电子数据表格技术、虚拟化技术以及最优化理论引入到自动测试系统领域，并对涉及的关键核心问题进行了论述。本书主要介绍了自动测试系统发展历程、涉及关键技术及未来发展趋势，云架构下智能自动测试系统的硬件模型、软件模型和运行机制，智能传感器技术、硬件测试资源虚拟化技术，不同测试任务下测试资源动态调度理论、原理样机设计与验证等内容。 本书可以作为从事自动测试设备设计与开发工作相关的研发或设计工程师等相关人员的参考用书，也可以作为相关机械工程、仪器仪表等与自动测试技术相关专业的本科生、研究生教材。
自动测试系统-研究
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