SoC设计和测试技术 理论与实践
删除本页内容作者:朱珉
ISBN:1978-7-5641-6780-62
关键词:集成电路-芯片-设计-集成电路-芯片-测试
页数:186
出版社: 南京：东南大学出版社
出版日期:2016.09
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图书简介
本书共分7章内容:首先，整体介绍VLSI设计技术的发展现状和重点问题。其次，系统讲述硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等理论知识。第三，融合工程实践，对SoC设计和测试流程中的理念和方法展开论述。
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诉讼案号：（2022）川01民初4401，（2022）川01民初4403，（2022）川01民初4403，（2022）川0191民初19351号，（2022）川0191民初19594号，（2022）川0191民初20457号，（2022）川0191民初20459号，（2023）川知民终373号，（2023）川知民终374号，（2023）川知民终375号，
（2024）川0191民初15977号，（2024）川0191民初15979号，（2024）川0191民初15980号，（2024）川0191民初15981号，（2024）川0191民初15982号
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