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作者:（美）洛雷托，（美）斯莫尔曼著；康振川，王桂金译
关键词:晶体缺陷-分析-电子显微术 电子显微术-晶体缺陷-分析
页数:111
出版社:上海：上海科学技术出版社
出版日期:1979.11
发现时间:2023年7月10日 20:49
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